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日本電子電鏡

簡要描述:日本電子電鏡JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列推出的新機(jī)型。從選定興趣視野到生成報(bào)告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無縫操作,使用方便的掃描電子顯微鏡。

  • 產(chǎn)品型號:JSM-IT500
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-09-23
  • 訪  問  量:2277

詳細(xì)介紹

日本電子電鏡JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。
從選定興趣視野到生成報(bào)告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無縫操作,使用方便的掃描電子顯微鏡。

日本電子電鏡JSM-IT500功能特點(diǎn)

3個(gè)關(guān)鍵點(diǎn) 使日常分析更迅速!更簡便!

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關(guān)鍵點(diǎn)2 實(shí)時(shí)分析 (僅限于A/LA)
在圖像觀察過程中,進(jìn)行EDS分析。
EDS譜圖顯示在觀察窗口中, 如果給感興趣的元素加上alert ,會更容易發(fā)現(xiàn)。

關(guān)鍵點(diǎn)3 數(shù)據(jù)集中管理軟件
數(shù)據(jù)的查看、再分析以及從SEM圖像到EDS分析的全部數(shù)據(jù)報(bào)告可以一鍵生成。用數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)或者從測試結(jié)束的數(shù)據(jù)列表中啟動(dòng)數(shù)據(jù)管理窗口并選擇數(shù)據(jù),一鍵就能生成報(bào)告。

關(guān)鍵點(diǎn)1 Zeromag

從樣品座圖形和CCD圖像上可以尋找視野和分析位置。尋找視野非常輕松, 多視野連續(xù)分析的位置也很容易。

光學(xué)CCD圖像和SEM圖像的wan美結(jié)合和無縫操作使工作效率大大提高!

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利用Zeromag能簡便自動(dòng)地進(jìn)行大區(qū)域SEM觀察和EDS分析

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利用Zeromag設(shè)置蒙太奇

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蒙太奇結(jié)果 4×4 (左:背散射電子成份像 右:Ca元素面分布圖)
樣品:混凝土 加速電壓:15kV 高真空模式 拍攝區(qū)域:約4mm×3mm

利用Zeromag很容易設(shè)定大面積的蒙太奇區(qū)域,有利于成像和觀察。蒙太奇功能在斷裂分析和大區(qū)域中識別異物等從大面積區(qū)域上獲取詳細(xì)信息時(shí)非常有效。

關(guān)鍵點(diǎn)2 實(shí)時(shí)分析    SEM和EDS一體化集成     

在SEM圖像觀察過程中,進(jìn)行EDS分析                      

利用Live Analysis功能,可在觀察窗口中進(jìn)行被觀察區(qū)域的EDS分析。可以很容易地找到自己感興趣的元素,還能發(fā)現(xiàn)意料之外的元素。

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①顯示存在于測試區(qū)域中的主元素。能元素并顯示“Alert”。

②會顯示分析區(qū)域的特征X射線譜圖和自動(dòng)定性分析結(jié)果。

③一鍵點(diǎn)擊就可以在電鏡操作界面和詳細(xì)分析顯示界面間切換。

 

關(guān)鍵點(diǎn)3 數(shù)據(jù)集中管理軟件SMILE VIEW™ Lab     無縫創(chuàng)建報(bào)告                  

SMILE VIEW™ Lab是能集中管理與樣品臺位置聯(lián)動(dòng)的CCD圖像、SEM圖像、EDS分析結(jié)果等數(shù)據(jù)并快速生成報(bào)告的數(shù)據(jù)管理器。查看以前獲得的數(shù)據(jù)、重新分析,生成報(bào)告等都非常簡便。

①顯示各個(gè)視野的名稱。

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②能根據(jù)樣品名、創(chuàng)建日期和數(shù)據(jù)類型等搜索數(shù)據(jù)。

圖片8.jpg

 

③在樣品座圖形或CCD圖像上顯示各個(gè)視野的位置。

④會列表顯示被選區(qū)域的元素圖、譜圖等的數(shù)據(jù)和定量分析結(jié)果等。

圖片9.jpg

技術(shù)參數(shù)

分辨率 高真空模式

3.0 nm (30 kV)  15.0 nm (1.0 kV)

低真空模式*1

4.0 nm (30 kV BED) 

圖像倍率

×5~×300,000
  (以128 mm × 96 mm 作為顯示尺寸規(guī)定放大倍率)

顯示倍率

×14~×839,724
  顯示器上的圖像倍率(以358 mm × 269 mm 作為顯示尺寸規(guī)定放大倍率)

電子槍

鎢燈絲 電子槍*自動(dòng)合軸

加速電壓

0.3kV~30kV

低真空壓力設(shè)定范圍※1 

10~650Pa

物鏡光闌

3檔  帶有XY微調(diào)功能

自動(dòng)功能

燈絲調(diào)整、電子槍合軸調(diào)整,聚焦、像散、襯度/亮度調(diào)整

大樣品尺寸

200 mm直徑×75 mm高度
  200 mm直徑×80 mm高度※選配件
  32 mm直徑×90 mm高度 ※選配件

樣品臺

大型全對中式
  X:125 mm Y:100 mm Z:80 mm
  傾斜:-10~90° 旋轉(zhuǎn):360°

圖像無縫拼接功能

標(biāo)配

顯示測試位置座標(biāo)

直徑203 mm

標(biāo)準(zhǔn)菜譜

有(包括EDS條件 ※2)

圖像模式

二次電子像、REF像、成份像*1、形貌像*1、陰影像*1

獲取圖像的像素?cái)?shù)

640x480  1,280x960 
  2,560x1920  5,120x3,840

OS

Microsoft®Windows®10 64bit 

顯示器

23寸觸摸屏

EDS   功能*2

譜圖分析、定性分析/定量分析、線分析(水平線分析、任意方向線分析)元素面分布、電子束追蹤等

測長功能

有(兩點(diǎn)間距離、平行線間距離、角度、直徑等)

數(shù)據(jù)管理功能

SMILE VIEW™ Lab

生成報(bào)告功能

SMILE VIEW™ Lab

語言切換

可以在UI 上(日語/ 英語)

抽真空系統(tǒng)

*自動(dòng) TMP:1   臺、RP:1臺或2臺※1 

備注:Windows10 為美國微軟公司在美國及其它國家的注冊商標(biāo)或商標(biāo)

主要選配件

背散射電子檢測器(BED) ※1

低真空二次電子檢測器(LSED)能譜儀(EDS)※2

波譜儀(WDS)

電子背散射衍射檢測器(EBSD)

加載互鎖真空室(預(yù)抽室)

樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)(SNS)

樣品室觀察系統(tǒng)(CS)

操作面板

3D測量軟件操作臺

※1 為JSM-IT500LV/LA的標(biāo)配功能。
※2 為JSM-IT500LV/LA的標(biāo)配功能。

 

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