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簡(jiǎn)要描述:Guinier低溫環(huán)境XRD運(yùn)用成像板技術(shù),通過成熟的工藝技術(shù),配合溫度調(diào)節(jié)配件,可對(duì)低至4K的粉末樣品進(jìn)行X射線衍射分析。
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Guinier低溫環(huán)境XRD產(chǎn)品介紹:
德國HUBER快速X射線粉末衍射儀,高精度的機(jī)械加工,豐富了X射線衍射儀的使用場(chǎng)景,擴(kuò)大了使用范圍,該系統(tǒng)可分別實(shí)現(xiàn)“微量、高壓、高溫、超低溫、單晶測(cè)量”等全部要求。
Guinier超低溫高精X射線粉末衍射儀運(yùn)用成像板技術(shù),通過成熟的工藝技術(shù),配合溫度調(diào)節(jié)配件,可對(duì)低低至4K的粉末樣品進(jìn)行X射線衍射測(cè)量。
以下將詳細(xì)介紹以Guinier Camera G670相機(jī)及超低溫系統(tǒng)Low Temperature Device670.4為核心構(gòu)造的快速超低溫高精X射線粉末衍射儀。
*的成像板技術(shù)
由聚酯制成的柔性安裝箔上涂有由晶體組成的均勻粉末的發(fā)光存儲(chǔ)材料(顆粒大小約0.005mm),即由氟化鋇和微量二價(jià)銪組成的光刺激熒光粉作為發(fā)光中心(BaFBr:Eu2+)。
圖像存儲(chǔ)箔片位于Guinier相機(jī)670中,敏感面向內(nèi),對(duì)準(zhǔn)在半徑為90mm的焦圓上。它的曝光方式與以前使用的濕法影印技術(shù)相同。之后,在約5秒的時(shí)間內(nèi),用垂直的線性紅色二極管產(chǎn)生的激光束掃描成像板。
由此產(chǎn)生的藍(lán)色光激勵(lì)發(fā)光(PSL)從受X射線照射的區(qū)域發(fā)出,在掃描過程中由光電倍增管放大,然后記錄。初始的模擬信號(hào)通過一個(gè)16位的A /D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字計(jì)數(shù)。
通過白色鹵素?zé)簦梢栽?/span>10秒內(nèi)擦除已儲(chǔ)存的圖像結(jié)構(gòu),并支持下一次成像。
除圖像存儲(chǔ)箔外,670相機(jī)的外殼還包括帶有光電倍增管和前置放大器的激光記錄單元,以及鹵素擦除燈。
這款Guinier粉末衍射儀集成了傳統(tǒng)的濕法影印技術(shù)的高分辨率,及圖像板檢測(cè)技術(shù)的高靈敏度。因此,它能夠在盡可能短的時(shí)間內(nèi)提供數(shù)字粉末衍射圖,然后可以通過Rietveld分析或類似的方法進(jìn)一步處理。
所提供的測(cè)量軟件在MS-Windows下運(yùn)行,并將多可達(dá)20001個(gè)計(jì)數(shù)點(diǎn)的衍射圖文件存儲(chǔ)成各類標(biāo)準(zhǔn)文件格式。
超低溫裝置
Low Temperature Device 670.4
粉末樣品,可以在約12K至350 K之間進(jìn)行研究。與標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)670.1類似,粉末被夾在兩層聚酯薄膜之間。
冷卻裝置具有完整的幾何設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),透射角為45°。樣品被封裝在一個(gè)冷卻的銅塊中,銅塊周圍有兩個(gè)冷卻罩。樣品由位于低溫恒溫箱外的旋轉(zhuǎn)條形磁鐵振蕩。空冷壓縮機(jī)為閉式循環(huán)液氦冷卻系統(tǒng)提供動(dòng)力。溫度由硅二極管和冷卻頭中的加熱元件控制。
調(diào)節(jié)系統(tǒng)由電腦和的 RS232/IEEE488控制。配有完整的真空泵系統(tǒng)和所有必要的設(shè)備。
Guinier低溫環(huán)境XRD技術(shù)參數(shù):
計(jì)數(shù)點(diǎn)(max.):20001
2-Theta范圍 (max.) :100°
2-Theta 步長(zhǎng):0.005°
A/D 分辨率:16 Bit
動(dòng)態(tài)范圍(multi-scan):~200000 counts
讀出時(shí)間:<5 sec
擦除時(shí)間:10 sec
焦圓半徑:90 mm.
硬件要求
X射線光源:0.4*8 mm2垂直細(xì)線焦點(diǎn)
臺(tái)面以上橫梁高度:~275mm
桌面面積:~600*500mm2
19”機(jī)架,3個(gè)高度單位
該系統(tǒng)以Guinier高分辨率相機(jī)及超低溫系統(tǒng)Low Temperature Device670.4為主要核心組件,通過在此基礎(chǔ)上搭建的超低溫系統(tǒng),以響應(yīng)客戶超低溫條件下的粉末試樣進(jìn)行高精度測(cè)量的需求。
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